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高纯锗探测器GEM50P4 品牌：美国Ortec晶体类型： P型高纯锗，同轴型相对探测效率： 大于50%能量响应范围： 40 Kev – 10 Mev能量分辨率： 对1.332 MeV峰（Co-60）：≤1.9keV对 122 keV峰（Co-57）：≤ 0.9 keV峰康比： ≥ 64：1峰形参数： FW0.1M/FWHM ≤1.9，FW0.2M/FWHM ≤ 2.6数字化谱仪DSPEC-jr2.0-POSGE-最大数据通过率：大于100kcps（低频抑制器LFR关闭）；大于34kcps（低频抑制器LFR开启）；-具有低频噪声抑制、自动最优化、自动极零、零死时间校正和虚拟示波器等功能；-液晶屏显示，能随时显示探测器晶体温度、高压状况、增益/零点稳定性、实时间/活时间和计数率等信息；USB2.0接口；-系统变换增益（存储器分段）：由计算机选择为16,384，8192，4096，2048，1024或512道；-积分非线性 ≤±0.025%；微分非线形 ≤±1%；-数字化稳谱器：由计算机控制并稳定增益和零点；-温度系数： 增益:<35ppm/°C ；零点:<3 ppm/℃；-脉冲抗堆积：自动设定域值，脉冲对分辨率为500ns。
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